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ACRT-G-500 金屬探測儀校準不合格時,可能的原因有哪些?

更新時間:2025-11-26  點擊次數(shù): 135次

金屬探測儀校準不合格的常見原因及解決方法

一、校準不合格的核心原因

標準樣本問題?

樣本材質(zhì)、尺寸與設備要求不匹配(如誤用鋁樣本校準鐵檢測模式)?。

樣本表面氧化或污染,影響磁場耦合效果。

環(huán)境干擾?

電磁干擾(如變頻器、電機)導致信號波動?。

機械振動(如傳送帶抖動)引起線圈位移?。

設備老化或故障?

探測線圈繞組短路或絕緣層老化,磁場分布異常?。

信號放大器元件受潮或參數(shù)漂移,放大噪聲信號?。

二、調(diào)整參數(shù)與維修方法

參數(shù)優(yōu)化?

根據(jù)樣本材質(zhì)調(diào)整靈敏度(如鐵模式 vs 非鐵模式)?。

設置產(chǎn)品效應補償參數(shù),減少高水分/鹽分產(chǎn)品的誤報?。

硬件維修?

更換老化線圈(需檢測繞組電阻,偏差超±5%即更換)?。

為放大器模塊增加防潮涂層,并安裝濕度傳感器?。

環(huán)境適配?

與干擾源保持3米以上距離,或設置電磁屏蔽室?。

安裝減震腳墊(固有頻率5~10Hz)隔離振動?。


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